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Metal impurities in silicon-device fabrication / Klaus Graff

Public ISBD Titre : Metal impurities in silicon-device fabrication Type de document : texte imprimé Auteurs : Klaus Graff (1931-....), Auteur Editeur : Berlin : Springer-Verlag Année de publication : cop. 1995 Collection : Springer series in materials science num. 24 Importance : IX-216 p. Présentation : ill. Format : 25 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-3-540-58317-2 Note générale : Bibliogr. p. 201-214. Index Langues : Anglais Mots-clés :   Semiconducteurs  Défauts  Silicium  Inclusions  Silicium  Défauts Index. décimale : 621.3 Electrotechnique, électronique, télécommunications Metal impurities in silicon-device fabrication [texte imprimé] / Klaus Graff (1931-....), Auteur . - Berlin : Springer-Verlag, cop. 1995 . - IX-216 p. : ill. ; 25 cm. - (Springer series in materials science; 24) . ISBN : 978-3-540-58317-2 Bibliogr. p. 201-214. Index Langues : Anglais Mots-clés :   Semiconducteurs  Défauts  Silicium  Inclusions  Silicium  Défauts Index. décimale : 621.3 Electrotechnique, électronique, télécommunications

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PC039	PC039	Livre	Bibliothèque IPHT-SPEC	Physique	IPHT-SPEC	Disponible Disponible

The real structure of high-Tc superconductors

Public ISBD Titre : The real structure of high-Tc superconductors Type de document : texte imprimé Editeur : Berlin : Springer-Verlag Année de publication : cop. 1993 Collection : Springer series in materials science num. 23 Importance : ix, 189 p Présentation : ill Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-3-540-56559-8 The real structure of high-Tc superconductors [texte imprimé] . - Berlin : Springer-Verlag, cop. 1993 . - ix, 189 p : ill ; 24 cm. - (Springer series in materials science; 23) . ISBN : 978-3-540-56559-8

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WW123	WW123	Livre	Bibliothèque IPHT-SPEC	Physique	IPHT-SPEC	Disponible Disponible